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紫外可見分光光度計UV759/UV759S
| 型號： | UV759/UV759S |
主要特點： ● 采用*光、機、電、微計算機模快化設計,具有超群的性能和性價比。 ● 采用比例雙光束光路結(jié)構(gòu),并配置高性能“閃耀全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器, 具有出眾的光學精度以及測量準確性、重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。
紫外可見分光光度計UV759/UV759S產(chǎn)品概述：
品牌：上海儀電分析儀器有限公司（原上海精科科學分析儀器廠）
名稱：紫外可見分光光度計
型號：UV759/UV759S
主要特點：
● 采用*光、機、電、微計算機模快化設計,具有超群的性能和性價比。
● 采用比例雙光束光路結(jié)構(gòu),并配置高性能“閃耀全息光柵”的低雜散光高分辨率的單色器, 具有出眾的光學精度以及測量準確性、重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。
● 采用強大的微處理功能、全自動的系統(tǒng)操作,測試控制及數(shù)據(jù)處理,具有*的自動調(diào)整“0”調(diào)整“100”八樣品池聯(lián)動以及光源反射鏡微步切換技術(shù)。
● 具有全波段掃描、分波段掃描（759S型主機具備）、動力學時間掃描、以及GOTOλ、線性回歸、濃度直讀、峰谷檢測等各種高級功能。
● 采用熱敏繪圖儀，可進行數(shù)據(jù)打印、光譜掃描（759S主機具備）、定波長時間掃描、線性回歸等曲線的繪制。
● 具有USB接口，可直接與PC機交互，強化了儀器的檢測數(shù)據(jù)、掃描圖譜等處理功能，實現(xiàn)了測試文檔的海量儲存，也為用戶二次開發(fā)提供了便利。
● 可靠的斷電保護措施，可記憶測得數(shù)據(jù)、掃描圖譜、回歸方程以及儀器修正值等，并實現(xiàn)了開機快速初始化進入測試狀態(tài)。
● 儀器操作簡便，用戶只需對應液晶顯示屏上的菜單進行選項和確認，即能達到所需的功能。
● 儀器采用高能量的長壽命法蘭盤定位氘燈。當儀器氘燈更換時，只需卸裝兩枚法蘭盤定位螺絲，即可保證燈源處于佳位置，無須繁瑣的光路調(diào)整。
技術(shù)指標：
● 波長范圍：190nm～1100nm
● 波長大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.05%（T）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處,以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
● 吸光度測量范圍：-0.300（A）～3.000(A)
● 透射比大允許誤差：±0.3%（T）
● 漂移：≤0.001A/h（開機2h后，500nm處）
● 透射比重復性：≤0.15%（T）
● 基線平直度：±0.002A(200nm～1050nm)
● 噪聲：100%（T）噪聲≤0.15%（T） 0%（T）噪聲≤0.10%(T)
● 掃描速度: 快、中、慢
其它：
● 工作電壓：AC220V±22V 50Hz±1Hz
● 額定功率：200W
● 環(huán)境溫度：5℃～35℃
● 環(huán)境濕度：≤85%
